Nuevo Jenoptik UFO Probe® Vertical: Ahorro de tiempo en el ensayo de PICs a nivel de oblea para la fabricación de grandes volúmenes.

Pruebas paralelas que ahorran tiempo a altas frecuencias de ciclo

El perfeccionamiento consecuente de la tecnología patentada amplía las posibilidades de acoplamiento óptico y, con la nueva versión UFO Probe® Vertical, permite realizar pruebas funcionales paralelas de componentes ópticos y eléctricos en chips utilizando la tecnología de agujas verticales de fabricantes de tarjetas de prueba establecidos.