Neue Jenoptik UFO Probe® Vertical: Zeitsparendes Testen von PICs auf Wafer-Ebene für die Hochvolumenfertigung

Zeitsparendes Parallel-Testen bei hohen Taktzahlen
Die konsequente Weiterentwicklung der patentierten Technologie erweitert die Möglichkeiten der optischen Kopplung und ermöglicht mit der neuen UFO Probe® Vertical-Version parallele Funktionstests von optischen sowie elektrischen Komponenten auf Chips mittels Vertical-Nadeltechnologie etablierter Prüfkartenhersteller. Dadurch können Anwender standardmäßig bis zu 32 – bei Bedarf auch mehr – optische Kanäle parallel koppeln, ohne eine aktive Ausrichtung vornehmen zu müssen.