Weißlicht-Interferometer zur absoluten Abstandsmessung mit Subnanometer-Genauigkeit
Artikelnummer: IMS5600-DS Anwendungen Smart SensorSmart FactoryMaschinenbau & AnlagenbauMetallindustrieHalbleiterindustrie
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Das Weißlicht-Interferometer IMS5600-DS wird zur hochpräzisen Weg- und Abstandsmessung eingesetzt. Die System liefert absolute Messwerte und kann daher auch zur Abstandsmessung von Stufenprofilen eingesetzt werden. Dank der absoluten Messung erfolgt das Abtasten von Stufen mit hoher Signalstabilität. Bei Messungen auf bewegte Objekte können somit die Höhenunterschiede von Absätzen, Stufen und Vertiefungen zuverlässig erfasst werden. Das Messsystem bietet eine Sub-Nanometer-Auflösung bei gleichzeitig großem Grundabstand in Relation zum Messbereich. Bei der Multipeak-Abstandsmessung auf transparente Objekten werden bis zu 14 Abstandswerte gleichzeitig ausgewertet. Damit kann beispielsweise der Abstand zwischen Glas und einer Trägerplatte ermittelt werden. Darüber kann der Controller die Glasdicke aus den Abstandswerten berechnen.
Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG
Königbacher Straße 15
94496 Ortenburg
Deutschland
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Produktvideos
Eigenschaften von Weißlicht-Interferometer zur absoluten Abstandsmessung mit Subnanometer-Genauigkeit
Können von Anbieterdaten abweichen
Basisdaten
Auflösung 5.000.000.000 nm
Messmöglichkeiten Verdrängung / Position Entfernung
Lichtfarbe/ Lichtart Weißlicht
Produkt-Umgebungseinflüsse (Schutzart/Temperatur)
Betriebstemperaturbereich 5 bis 50 °C
Signalein-/ausgänge, Schnittstellen
Schnittstellen Analoge Steuerung, digitale Schnittstelle, Computerschnittstelle
Zulassungen/ Zertifikate/ Performance-Level/ Integritäts-Level
Zertifikate/ Zulassungen/ Prüfzeichen CE, UKCA
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